Перейти до основного вмісту
Розділи та колекції
Пошук за критеріями
Статистика
English
Українська
Увійти
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Кафедри
Кафедри
Постійне посилання на розділ
https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393
Переглянути
Пошук
Підрозділи та колекції
За датою
За автором
За назвою
За ключовими словами
За предметною катагорією
Пошук
Підрозділи та колекції
За датою
За автором
За назвою
За ключовими словами
За предметною катагорією
1 результатів
Повернутись до результатів
Фільтри
Автор
search.filters.author.Pershyn, Yuriy P.
1
search.filters.author.Chumak, V. S.
1
search.filters.author.Devizenko, A. Y.
1
search.filters.author.Reshetnyak, M. V.
1
search.filters.author.Shipkova, I. G.
Пошук за іменем автора
Шукати
Ключові слова
search.filters.subject.diffraction methods
1
search.filters.subject.amorphous structure
1
search.filters.subject.interlayer thickness
1
search.filters.subject.TEM
1
search.filters.subject.transmission electron microscopy
Детальніше
Пошук за ключовими словами
Шукати
Дата
Початок
Кінець
Шукати
2016
1
Містить файли
1
Так
Скинути фільтри
Налаштування
Сортувати за
Дата доступу за спаданням
Актуальність
У порядку збільшення за назвою
Дата випуску за спаданням
Результатів на сторінку
1
5
10
20
40
60
80
100
Пошук
Автор: search.filters.author.Pershyn, Yuriy P.
×
Ключові слова: search.filters.subject.diffraction methods
×
Засоби пошуку
Результати пошуку
Зараз показуємо
1 - 1 з 1
Документ
Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale
(
НТУ "ХПІ"
,
2016
)
Shipkova, I. G.
;
Chumak, V. S.
;
Reshetnyak, M. V.
;
Devizenko, A. Y.
;
Pershyn, Yuriy P.
Показати більше
