Кафедри

Предметом дослідження в статті є методи тестування цифрових пристроїв, які реалізовані на програмованих логічних інтегральних схемах (ПЛІС). Метою роботи є обґрунтування підходу до діагностування мікропроцесорних систем у базисі ПЛІС, який являє собою подальший розвиток методу самодіагностики. У статті вирішуються наступні завдання: проведено аналіз існуючих методів тестування цифрових пристроїв, розкрито їх переваги та недоліки; проаналізовано існуючі підходи до діагностування мікропроцесорних систем, основу яких складають інтегральні схеми із програмованою структурою; запропоновано підхід до діагностування мікропроцесорних систем в базисі ПЛІС, в основу якого покладено принцип взаємодії процесорів між собою шляхом введення в багатопроцесорну систему сервісного процесора. Отримані наступні результати: доведено, що реалізація запропонованих моделей взаємодії процесорів між собою в багатопроцесорній системі надасть сервісному процесору діагностичну інформацію про технічний стан системи. Зазначено, що наявність діагностичної інформаціє про технічний стан мікропроцесорної системи є основою для прийняття рішення на відновлення системи шляхом перепрограмування ПЛІС. Висновки: розглянуто проблему діагностування мікропроцесорних систем у базисі ПЛІС. Проведено аналіз існуючих методів тестування інтегральних схем із програмованою структурою, відзначено їх переваги та недоліки. Запропоновано в якості діагностичного пристрою використовувати вбудований сервісний процесор, основною функцією якого є збір діагностичної інформації та прийняття рішення про реконфігурацію мікропроцесорної системи з метою оперативного автоматичного відновлення її функціонування.

Кафедри

Переглянути

Фільтри

Налаштування

Сортувати за

Результатів на сторінку

Результати пошуку