Кафедри

Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 4 з 4
  • Ескіз
    Документ
    Оценка достоверности контроля, при реализации многопараметрового вихретокового метода контроля параметров плоских изделий
    (НТУ "ХПИ", 2010) Себко, Вадим Вадимович
    Проведена оценка достоверности контроля параметров плоского изделия при реализации многопараметрового метода.
  • Ескіз
    Документ
    Вихретоковый контроль дефектов цилиндрических изделий в поперечном поле
    (НТУ "ХПИ", 2011) Авраменко, Александр Анатольевич; Скопенко, В. В.; Горкунова, Ирина Борисовна
    В даній роботі розглянуто метод підвищення точності контролю при вихорострумовій дефектоскопії виробів за рахунок зменшення впливу зазору між контрольованим виробом та вимірювальною котушкою перетворювача.
  • Ескіз
    Документ
    Вихретоковый контроль глубины упрочненного слоя изделий в режиме реального времени
    (НТУ "ХПИ", 2014) Горкунов, Борис Митрофанович; Сиренко, Николай Николаевич; Авраменко, Александр Анатольевич; Тищенко, Анна Анатольевна
    В работе рассмотрен алгоритм функционирования вихретокового устройства для контроля глубины упрочненного слоя металлических изделий, реализующий измерительные, расчетные и управляющие операции. Данный алгоритм позволяет осуществлять ряд процедур по определению контролируемого параметра и проводить статистическую обработку результатов контроля. На основе приведенного алгоритма разработана блок-схема и рассмотрен принцип действия автоматизированного вихретокового устройства. Сделан вывод о том, что данное устройство позволяет проводить контроль объектов в режиме реального времени, что значительно уменьшает временные затраты и повышает эффективность производства.
  • Ескіз
    Документ
    Вихретоковый преобразователь для контроля толщины диэлектрических покрытий на металлоизделиях
    (НТУ "ХПИ", 2013) Сучков, Григорий Михайлович; Глоба, Светлана Николаевна; Ле, Чи Хиеу
    The modification of the compensated eddy current probe (ECP) has been developed, which has a high range of measurement. Experimental researches of ECP performed, which confirmed the promise of its application in the control the thickness of the dielectric coatings on the metal products.