(НТУ "ХПІ", 2017) Баженов, Віктор Григорович; Гльойнік, Костянтин Анатолійович; Ходневич, Сергій Васильович
В даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихростру-мових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою ви-сокоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури.
