Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів
Вантажиться...
Дата
2017
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
НТУ "ХПІ"
Анотація
В даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихростру-мових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою ви-сокоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури.
In this article has been considered features of the useing orthogonal methods for measuring signal parameters during the design of eddy-current flaw detectors based on microcontrollers. The proposed new structure of the flaw detector have been analyzing. The structure has one measuring channel, implements an orthogonal measurement method, has very low energy consumption, small size and low cost. Experimental investigations the proposed structure of eddy-current flaw detectors have been done in a special experimental model, where using the high-precision signal synthesizer SDG102, firm SIGLENT, conducted simulation of possible defects that can lead to phase and amplitude changes of the measurement signal. That confirmed the high metrological capabilities of this structure.
In this article has been considered features of the useing orthogonal methods for measuring signal parameters during the design of eddy-current flaw detectors based on microcontrollers. The proposed new structure of the flaw detector have been analyzing. The structure has one measuring channel, implements an orthogonal measurement method, has very low energy consumption, small size and low cost. Experimental investigations the proposed structure of eddy-current flaw detectors have been done in a special experimental model, where using the high-precision signal synthesizer SDG102, firm SIGLENT, conducted simulation of possible defects that can lead to phase and amplitude changes of the measurement signal. That confirmed the high metrological capabilities of this structure.
Опис
Ключові слова
синтезатор частоти, перетворювач вихрострумовий, синтез прямий, DSP процесор, LabVIEW, перетворювач аналого-цифровий, фільтр нижніх частот, eddy current defectoscope, orthogonal method, frequency synthesizer, eddy current converter, direct synthesis, microcontroller, DSP processor, analog-to-digital converter, low pass filter
Бібліографічний опис
Баженов В. Г. Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів / В. Г. Баженов, К. А. Гльойнік, С. В. Ходневич // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2017. – № 44 (1266). – С. 60-64.