Use full-profile x-ray fluorescence analysis to determine the trace elements

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorKhudolii, S. A.
dc.contributor.authorReshetnyak, M. V.
dc.date.accessioned2026-04-15T08:33:38Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationKhudolii S. A., Reshetnyak M. V. Use full-profile x-ray fluorescence analysis to determine the trace elements. X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 05-08 квітня 2016 р. : у 3 ч. Ч. 2 / ред. Сокол Є. І. ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" та ін. Харків, 2016. С. 63.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/101105
dc.language.isoen
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectfull-profile X-ray
dc.subjectfluorescence analysis
dc.subjecttrace elements
dc.subjectspecialized hardware
dc.subjectanalytical chemistr
dc.subjectmodernized methods
dc.subjectcomputer processing
dc.titleUse full-profile x-ray fluorescence analysis to determine the trace elements
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Khudolii_Use_2016.pdf
Розмір:
191.76 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.15 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів. 2016