До аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією
dc.contributor.author | Щебенюк, Леся Артемівна | uk |
dc.contributor.author | Кириленко, В. М. | uk |
dc.contributor.author | Голик, Оксана Вячеславівна | |
dc.date.accessioned | 2014-12-11T13:17:24Z | |
dc.date.available | 2014-12-11T13:17:24Z | |
dc.date.issued | 2011 | |
dc.description.abstract | Проаналізовано затухання електромагнітного поля в напівпровідних екранах кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією на напругу 330 кВ. Досліджено вплив товщини екрану по жилі на товщину ізоляції кабелю. | uk |
dc.description.abstract | Fading of the electromagnetic field is analysed in the semiconductor screens of cables with the sewn together polyethylene isolation on tension 330 kV. Influencing of thickness of screen on a tendon on the thickness of isolation of cable is explored. | en |
dc.identifier.citation | Щебенюк Л. А. До аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією / Л. А. Щебенюк, В. М. Кириленко, О. В. Голик // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Енергетика: надійність та енергоефективність. – Харків : НТУ "ХПІ". – 2011. – № 3. – С. 158-163. | uk |
dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/10794 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | НТУ "ХПІ" | uk |
dc.subject | електромагнітне поле | uk |
dc.subject | напруга | uk |
dc.subject | товщина екрану | uk |
dc.subject | товщина кабелю | uk |
dc.title | До аналізу втрат в напівпровідних екранах високовольтних кабелів із зшитою поліетиленовою ізоляцією | uk |
dc.type | Article | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
- Назва:
- vestnik_HPI_2011_3_Shchebeniuk_Do_analizu.pdf
- Розмір:
- 411.33 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.23 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: