Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorБаженов, Віктор Григоровичuk
dc.contributor.authorГльойнік, Костянтин Анатолійовичuk
dc.contributor.authorХодневич, Сергій Васильовичuk
dc.date.accessioned2018-04-14T07:27:51Z
dc.date.available2018-04-14T07:27:51Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstractВ даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихростру-мових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою ви-сокоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури.uk
dc.description.abstractIn this article has been considered features of the useing orthogonal methods for measuring signal parameters during the design of eddy-current flaw detectors based on microcontrollers. The proposed new structure of the flaw detector have been analyzing. The structure has one measuring channel, implements an orthogonal measurement method, has very low energy consumption, small size and low cost. Experimental investigations the proposed structure of eddy-current flaw detectors have been done in a special experimental model, where using the high-precision signal synthesizer SDG102, firm SIGLENT, conducted simulation of possible defects that can lead to phase and amplitude changes of the measurement signal. That confirmed the high metrological capabilities of this structure.en
dc.identifier.citationБаженов В. Г. Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів / В. Г. Баженов, К. А. Гльойнік, С. В. Ходневич // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2017. – № 44 (1266). – С. 60-64.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35637
dc.language.isouk
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectсинтезатор частотиuk
dc.subjectперетворювач вихрострумовийuk
dc.subjectсинтез прямийuk
dc.subjectDSP процесорuk
dc.subjectLabVIEWen
dc.subjectперетворювач аналого-цифровийuk
dc.subjectфільтр нижніх частотuk
dc.subjecteddy current defectoscopeen
dc.subjectorthogonal methoden
dc.subjectfrequency synthesizeren
dc.subjecteddy current converteren
dc.subjectdirect synthesisen
dc.subjectmicrocontrolleren
dc.subjectDSP processoren
dc.subjectanalog-to-digital converteren
dc.subjectlow pass filteren
dc.titleОртогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерівuk
dc.title.alternativeОrthogonal amplitude-phase method of measurement in design of extrusion defectoscopes on the basis of microcontrollersen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2017_44_Bazhenov_Ortohonaln_amplitudno.pdf
Розмір:
709.99 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник № 44