Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorБаженов, Віктор Григоровичuk
dc.contributor.authorГльойнік, Костянтин Анатолійовичuk
dc.contributor.authorХодневич, Сергій Васильовичuk
dc.date.accessioned2018-04-14T07:27:51Z
dc.date.available2018-04-14T07:27:51Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstractВ даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихростру-мових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою ви-сокоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури.uk
dc.identifier.citationБаженов В. Г. Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів / В. Г. Баженов, К. А. Гльойнік, С. В. Ходневич // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2017. – № 44 (1266). – С. 60-64.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35637
dc.language.isouk
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectсинтезатор частотиuk
dc.subjectперетворювач вихрострумовийuk
dc.subjectсинтез прямийuk
dc.subjectDSP процесорuk
dc.subjectперетворювач аналого-цифровийuk
dc.subjectфільтр нижніх частотuk
dc.titleОртогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерівuk
dc.title.alternativeОrthogonal amplitude-phase method of measurement in design of extrusion defectoscopes on the basis of microcontrollersen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2017_44_Bazhenov_Ortohonaln_amplitudno.pdf
Розмір:
709,99 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11,23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Вісник № 44