Характеристика патентного аналітичного ресурсу "Patstat"
Дата
2019
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
побудова патентних ландшафтів, база даних Patstat, сучасна цифрова технологія 3D print, візуалізація отриманих результатів
Бібліографічний опис
Моісеєнко Р. С. Характеристика патентного аналітичного ресурсу "Patstat" / Р. С. Моісеєнко, Н. О. Артамонова // XIII Міжнародна науково-практична конференція магістрантів та аспірантів : матеріали конф., 19-22 листопада 2019 р. / ред. Є. І. Сокол ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Харків : НТУ "ХПІ", 2019. – С. 91-92.