Перспективи неруйнівної діагностики виробів мікроелектроніки

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКаліщук, О. О.
dc.date.accessioned2023-06-15T07:27:56Z
dc.date.available2023-06-15T07:27:56Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationКаліщук О. О. Перспективи неруйнівної діагностики виробів мікроелектроніки / О. О. Каліщук // Інформаційні проблеми теорії акустичних, радіоелектронних і телекомунікаційних систем (IPST-2019) : тези доп. 8-ї міжнар. наук.-техн. конф., 20–22 листопада 2019 р., м. Харків / Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Харків : НТУ "ХПІ", 2019. – С. 54-56.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/66255
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectелектронні пристрої
dc.subjectдіагностичні прилади
dc.subjectсигнали
dc.subjectелектрична енергія
dc.subjectвимірювачі
dc.titleПерспективи неруйнівної діагностики виробів мікроелектроніки
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Kalishchuk_Perspektyvy_2019.pdf
Розмір:
271.29 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.28 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Інформаційні проблеми теорії акустичних, радіоелектронних і телекомунікаційних систем. 2019