Границы кластеров в полупроводниковых аморфных пленках: сравнение эксперимента и теории

dc.contributor.authorЛыках, В. А.
dc.contributor.authorСинельник, А. В.
dc.date.accessioned2024-10-24T11:19:31Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationЛыках В. А. Границы кластеров в полупроводниковых аморфных пленках: сравнение эксперимента и теории / Лыках В. А., Синельник А. В. // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : наук. вид. : тези доп. 27-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD–2019, [15-17 травня 2019 р.] : у 4 ч. Ч. 1 / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2019. – C. 349.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/82703
dc.language.isoru
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectкластеры
dc.subjectполупроводниковые аморфные пленки
dc.subjectосаждение
dc.subjectтемпература
dc.subjectдифференциальные уравнения Лагранжа
dc.titleГраницы кластеров в полупроводниковых аморфных пленках: сравнение эксперимента и теории
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2019_Lyikah_Granitsyi_klasterov.pdf
Розмір:
267.52 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.28 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: