Using computer vision and neural networks for defect detection in manufacturing
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
National Technical University "Kharkiv Polytechnic Institute"
Анотація
The research explores the application of computer vision and neural networks for automated defect detection in manufacturing processes. Deep learning-based algorithms analyze visual data to identify defects, optimize quality control, and enhance production efficiency [1]. The study aims to reduce human error, increase detection accuracy, and minimize production losses.
Опис
Ключові слова
computer vision, neural networks, defect detection, deep learning, automation, manufacturing quality control
Бібліографічний опис
Sotnychenko V. Using computer vision and neural networks for defect detection in manufacturing [Electronic resours] / Viktor Sotnychenko ; research supervisor Igor Yakovenko ; lang. support supervisor Tetyana Sergeyeva // An Innovative Model of Research Projects Aimed at the Integration of Ukraine into the European Scientific Space : book of abstr. an Annual Intern. PhD Conf., April 24, 2025 / National Technical University "Kharkiv Polytechnic Institute". – Electronic text data. – Kharkiv : NTU "KhPI", 2025. – P. 250-252.
