Using computer vision and neural networks for defect detection in manufacturing

Вантажиться...
Ескіз

Дата

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник/консультант

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

National Technical University "Kharkiv Polytechnic Institute"

Анотація

The research explores the application of computer vision and neural networks for automated defect detection in manufacturing processes. Deep learning-based algorithms analyze visual data to identify defects, optimize quality control, and enhance production efficiency [1]. The study aims to reduce human error, increase detection accuracy, and minimize production losses.

Опис

Ключові слова

computer vision, neural networks, defect detection, deep learning, automation, manufacturing quality control

Бібліографічний опис

Sotnychenko V. Using computer vision and neural networks for defect detection in manufacturing [Electronic resours] / Viktor Sotnychenko ; research supervisor Igor Yakovenko ; lang. support supervisor Tetyana Sergeyeva // An Innovative Model of Research Projects Aimed at the Integration of Ukraine into the European Scientific Space : book of abstr. an Annual Intern. PhD Conf., April 24, 2025 / National Technical University "Kharkiv Polytechnic Institute". – Electronic text data. – Kharkiv : NTU "KhPI", 2025. – P. 250-252.

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в