Модификация параметров испытательных устройств при переводе их в новый режим эксплуатации

dc.contributor.authorПетков, Александр Александровичru
dc.date.accessioned2014-10-16T07:18:06Z
dc.date.available2014-10-16T07:18:06Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractВ статье предложен метод модификации параметров многоконтурных испытательных устройств при их переводе в новый режим эксплуатации. Показана применимость метода для испытательных устройств с активно-индуктивной нагрузкой.ru
dc.description.abstractIn article the modification method of multiple-loop test devices parameters is offered at their transfer in a new operation regime. Usability of the method for test devices with a resistive load-inductive is shown.en
dc.identifier.citationПетков А. А. Модификация параметров испытательных устройств при переводе их в новый режим эксплуатации / А. А. Петков // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2009. – № 6. – С. 63-66.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/9517
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectмодификация параметровru
dc.subjectиспытательное устройствоru
dc.subjectрежим эксплуатацииru
dc.subjectmodification of parametersen
dc.subjecttest deviceen
dc.subjectoperation regimeen
dc.titleМодификация параметров испытательных устройств при переводе их в новый режим эксплуатацииru
dc.title.alternativeModification of parameters of test devices while transferring them in a new operation regimeen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
2009_Petkov_Modifikatsiya.pdf
Розмір:
355.27 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: