Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере
dc.contributor.author | Себко, Вадим Вадимович | ru |
dc.contributor.author | Бабенко, Владимир Николаевич | ru |
dc.contributor.author | Рябовол, Е. Н. | ru |
dc.date.accessioned | 2015-01-23T12:02:46Z | |
dc.date.available | 2015-01-23T12:02:46Z | |
dc.date.issued | 2014 | |
dc.description.abstract | Предложен алгоритм совместного измерительного контроля коэффициента затухания ht, относительной магнитной проницаемости yirt, удельной электрической проводимости ot и температуры t стенки микроволновой камеры с помощью экранного вихретокового устройства. Предложен четырехпараметровый вихретоковый метод измерительного контроля относительной магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости, температуры и коэффициента затухания однородного магнитного поля в стенке микроволновой камеры. Приведены основные соотношения, описывающие четырехпараметровый экранный метод | ru |
dc.description.abstract | An algorithm of joint control of measuring the attenuation coefficient ht, relative permeability, conductivity and temperature t of microwave chamber wall using an eddy current device screen. Four-parameter proposed eddy current technique of measuring relative permeability control, conductivitу, temperature t and the damping coefficient uniform magnetic field in the wall of the microwave chamber. The basic relations describing four-parameter screening method | en |
dc.identifier.citation | Себко В. В. Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере / В. В. Себко, В. Н. Бабенко, Е. Н. Рябовол // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Инновационные технологии и оборудование обработки материалов в машиностроении и металлургии. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 5 (1048). – С. 65-72. | ru |
dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/12203 | en |
dc.language.iso | ru | |
dc.publisher | НТУ "ХПИ" | ru |
dc.subject | микроволновые технологии | ru |
dc.subject | совместный измерительный контроль | ru |
dc.subject | вихретоковое устройство | ru |
dc.subject | четырехпараметровый экранный метод | ru |
dc.subject | microwave chamber | en |
dc.subject | measuring algorithm of joint control | en |
dc.subject | eddy current device | en |
dc.title | Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере | ru |
dc.title.alternative | Defining the attenuation coefficient of the magnetic field in industrial microwave chamber | en |
dc.type | Article | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
- Назва:
- vestnik_HPI_2014_5_Sebko_Opredelenie.pdf
- Розмір:
- 894.4 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.23 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: