Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере

dc.contributor.authorСебко, Вадим Вадимовичru
dc.contributor.authorБабенко, Владимир Николаевичru
dc.contributor.authorРябовол, Е. Н.ru
dc.date.accessioned2015-01-23T12:02:46Z
dc.date.available2015-01-23T12:02:46Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractПредложен алгоритм совместного измерительного контроля коэффициента затухания ht, относительной магнитной проницаемости yirt, удельной электрической проводимости ot и температуры t стенки микроволновой камеры с помощью экранного вихретокового устройства. Предложен четырехпараметровый вихретоковый метод измерительного контроля относительной магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости, температуры и коэффициента затухания однородного магнитного поля в стенке микроволновой камеры. Приведены основные соотношения, описывающие четырехпараметровый экранный методru
dc.description.abstractAn algorithm of joint control of measuring the attenuation coefficient ht, relative permeability, conductivity and temperature t of microwave chamber wall using an eddy current device screen. Four-parameter proposed eddy current technique of measuring relative permeability control, conductivitу, temperature t and the damping coefficient uniform magnetic field in the wall of the microwave chamber. The basic relations describing four-parameter screening methoden
dc.identifier.citationСебко В. В. Определение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камере / В. В. Себко, В. Н. Бабенко, Е. Н. Рябовол // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Инновационные технологии и оборудование обработки материалов в машиностроении и металлургии. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 5 (1048). – С. 65-72.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/12203en
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectмикроволновые технологииru
dc.subjectсовместный измерительный контрольru
dc.subjectвихретоковое устройствоru
dc.subjectчетырехпараметровый экранный методru
dc.subjectmicrowave chamberen
dc.subjectmeasuring algorithm of joint controlen
dc.subjecteddy current deviceen
dc.titleОпределение коэффициента затухания магнитного поля в промышленной микроволновой камереru
dc.title.alternativeDefining the attenuation coefficient of the magnetic field in industrial microwave chamberen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2014_5_Sebko_Opredelenie.pdf
Розмір:
894.4 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: