Выбор метода зондирования образца и типа микроконтроллера для обработки данных от ЯМР - спектрометра

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorРебенок, Н. И.
dc.contributor.authorДаниленко, О. Ф.
dc.date.accessioned2024-05-11T15:57:30Z
dc.date.available2024-05-11T15:57:30Z
dc.date.issued2015
dc.identifier.citationРебенок Н. И. Выбор метода зондирования образца и типа микроконтроллера для обработки данных от ЯМР - спектрометра / Н. И. Ребенок, О. Ф. Даниленко // IX Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф. (07-09 квітня 2015 р.) : у 4 ч. Ч. 4 / орг. ком. А. П. Марченко [та ін.] ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Харків : НТУ "ХПІ", 2015. – С. 84.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/77112
dc.language.isoru
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectметод зондирования образца
dc.subjectмикроконтроллер
dc.subjectобработка данных
dc.subjectЯРМ - спектрометр
dc.titleВыбор метода зондирования образца и типа микроконтроллера для обработки данных от ЯМР - спектрометра
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Rebenok_Vyibor_metoda_zondirovaniya_2015.pdf
Розмір:
390.92 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.28 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

IX Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів. 2015