Метрологічне забезпечення вихрострумової товщинометрії покриттів

dc.contributor.authorПавленко, Ю. А.
dc.contributor.authorТюпа, І. В.
dc.date.accessioned2025-05-12T08:35:58Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.citationПавленко Ю. А. Метрологічне забезпечення вихрострумової товщинометрії покриттів / Ю. А. Павленко, І. В. Тюпа // VI Університетська науково-практична студентська конференція магістрантів Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут" : матеріали конф., 27-29 березня 2012 р. : у 4 ч. Ч. 3 / оргком.: Л. Л. Товажнянський [та ін.] ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т". – Харків : НТУ "ХПІ", 2012. – С. 28-29.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/89298
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectвихрострумова товщинометрія
dc.subjectпроведення контролю
dc.subjectсигнал ВСП
dc.subjectтовщина покриттів
dc.titleМетрологічне забезпечення вихрострумової товщинометрії покриттів
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
Pavlenko_Metrolohichne_2012.pdf
Розмір:
404.85 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: