Structure evolution of amorphous Ti-Zr-Ni films caused by annealing
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
annealing, structure evolution, X-ray, x-ray amorphous, X-ray diffraction
Бібліографічний опис
Structure evolution of amorphous Ti-Zr-Ni films caused by annealing / I. G. Shipkova, S. V. Malykhin, S. V. Surovitskiy, I. A. Kopylets [et al.] // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : наук. вид. : тези доп. 27-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD–2019, [15-17 травня 2019 р.] : у 4 ч. Ч. 1 / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2019. – C. 366.