Анализ резонансных систем для измерения электрофизических параметров веществ

Abstract

Проведено анализ использования резонансных систем для измерение электрофизических свойств веществ, имеющих большие потери в коротковолновой части миллиметрового и субмиллиметровом диапазонах с использованием адекватных этим диапазонам длин волнThe analysis of resonant systems for the measurement of the electrophysical properties of substances with large losses in the short millimeter and submillimeter ranges using appropriate ranges of these wavelengths