Методи виявлення патентних порушень в автоматизованих лініях обробки металів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛисенко, О. В.
dc.date.accessioned2025-08-08T08:06:26Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationЛисенко О. В. Методи виявлення патентних порушень в автоматизованих лініях обробки металів [Електронний ресурс] / О. В. Лисенко // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 33-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2025, 14-17 травня 2025 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Електрон. текст. дані. – Харків : НТУ "ХПІ", 2025. – С. 261.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/91923
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectавтоматизовані лінії
dc.subjectобробка металів
dc.subjectвиявлення патентних порушень
dc.subjectзахист інтелектуальної власності
dc.subjectметоди машинного навчання
dc.subjectаналіз баз даних
dc.subjectавтоматизовані системи моніторингу
dc.titleМетоди виявлення патентних порушень в автоматизованих лініях обробки металів
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2025_Lysenko_Metody_vyiavlennia.pdf
Розмір:
449.2 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2.95 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я. 2025