Interdiffusion in Sc/Si multilayers

Ескіз

Дата

2008

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

ESRF

Анотація

Опис

Ключові слова

interdiffusion in nano-scale multilayers, soft X-ray mirrors, kinetics of silicide, взаємодифузія в наномасштабних багатошарах, м'які рентгенівські дзеркала, кінетика силіциду

Бібліографічний опис

Interdiffusion in Sc/Si multilayers / Dmitriy L. Voronov [et al.] // Physics of X-ray Multilayer Structures : Books of Abstracts "The 9th International Conference on the Physics of X-ray Multilayer Structures" (PXRMS), February 3-7, 2008. – Montana, USA, 2008. – [P. 2].

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в