Модель оцінювання достовірності контролю технічного стану зразків складних систем

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorІохов, Олександр Юрійович
dc.contributor.authorМанько, А. В.
dc.contributor.authorКухтін, Микола Олександрович
dc.date.accessioned2025-10-17T07:50:45Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractОбґрунтовано вплив точності оцінювання коефіцієнта готовності засобів вимірювання на достовірність контролю технічного стану зразків складних систем. З метою підвищення ефективності контролю технічного стану зразків складних систем запропоновано оцінювати якість (надійність, точність) оцінки коефіцієнта готовності засобів вимірювання. Для побудови моделі запропоновано використовувати імовірнісно-статистичний метод, змістом якого є оцінка ефективності контролю за технічним станом зразків складних систем під час експлуатації.
dc.identifier.citationІохов О. Ю. Модель оцінювання достовірності контролю технічного стану зразків складних систем / Іохов О. Ю., Манько А. В., Кухтін М. О. // Інформаційні технології і автоматизація – 2023 : зб. тез доп. 16-ї Міжнар. наук.-практ. конф., 19-20 жовтня 2023 р. = Information technologies and automation – 2023 : proc. of the 16th annual sci. conf., October 19-20, 2023. – Одеса : ОНТУ, 2023. – С. 65-67.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/94148
dc.language.isouk
dc.publisherОдеська національна академія харчових технологій
dc.subjectскладні системи
dc.subjectтехнічний стан
dc.subjectконтрольно-діагностичні роботи
dc.subjectуніверсальні системи моніторингу
dc.subjectтехнічний стан зразків складних систем
dc.subjectметод усіченого перетворення Фур'є
dc.titleМодель оцінювання достовірності контролю технічного стану зразків складних систем
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Iokhov_Model_otsiniuvannia_2023.pdf
Розмір:
545.76 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Публікації співробітників (ВІТВ НТУ "ХПІ")