О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции

dc.contributor.authorПавленко, Татьяна Павловнаru
dc.date.accessioned2015-01-11T17:38:59Z
dc.date.available2015-01-11T17:38:59Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractВ данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов.ru
dc.description.abstractThe paper considers activated state of a statistic thermodynamic system in configuration phase space. Analysis of the given research results allows developing a calculation technique to explain causes of possible motion of arc reference points on the contact face.en
dc.identifier.citationПавленко Т. П. О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т. П. Павленко // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 6. – С. 22-24.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/11267
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectмиграция атомовru
dc.subjectперемещение заряженных частицru
dc.subjectквантовая механикаru
dc.subjectsystem activated stateen
dc.subjectparticle migrationen
dc.subjectconfiguration phase spaceen
dc.subjectarc reference point motionen
dc.titleО миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композицииru
dc.title.alternativeOn activated particles migration in contact composition element latticesen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
EE_2006_6_Pavlenko_O_migratsiyakh.pdf
Розмір:
345.07 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: