Технологічний контроль дефектів в емальпроводі з поліімідною ізоляцією

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГолик, Оксана Вячеславівнаuk
dc.contributor.authorАнтонець, Станіслав Юрійовичuk
dc.contributor.authorЩебенюк, Леся Артемівнаuk
dc.contributor.authorЗолотарьов, Володимир Володимировичuk
dc.date.accessioned2017-12-07T08:56:53Z
dc.date.available2017-12-07T08:56:53Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstractПредставлено результати неруйнівного технологічного контролю кількості дефектів в ізоляції емаль проводу на основі поліімідного полімеру. Розглянуто застосування статистичного методу аналізу результатів вимірювання показників цього контролю за допомогою математичної моделі тренду для використання результатів в активному технологічному контролі. Запропоновано рекомендації щодо практичного використання параметрів функції тренду в технологічному контролі. Параметром тренду є швидкість зменшення (чи збільшення) довжини проводу з заданою дефектністю впродовж технологічного циклу. Теоретично показана і вимірюваннями підтверджена можливість кількісної оцінки тенденції зміни впродовж технологічного циклу дефектності емаль ізоляції для проводу ПЭЭИ-ДХ2 – 200 з двохшаровою поліімідною ізоляцією номінальним діаметром 0,56 мм. Визначення кількісної оцінки тенденції зміни дефектності емаль ізоляції дозволяє виділити і кількісно оцінити випадкову похибку технологічного процесу – сумарну похибку результатів технологічного контролю, яка є кількісною характеристикою випадкової складової стабільності технологічного процесу і зумовлена багатьма чинниками, впливом кожного з яких можна знехтувати порівняно із сумою.uk
dc.description.abstractIn this paper can be used to not destroying technological monitoring of defects isolation enameled wire with poliimid polymer. The thesis is devoted to the statistical method for processing, comparison and analysis of outcomes of measurements of parameters isolation it enameled wire because of mathematical model of trend for application in active technological monitoring is developed; to development used of the recommendations for parameters of such monitoring. Is theoretically justified and the possibility of a diminution of dependence of an error from a velocity of movement of a wire for want of quantifying of defects enameled isolation not destroying tests by high voltage.en
dc.identifier.citationТехнологічний контроль дефектів в емальпроводі з поліімідною ізоляцією / О. В. Голик [та ін.] // Вісник Нац. техн. ун-ту «ХПІ» : зб. наук. пр. Сер. : Енергетика: надійність та енергоефективність. – Харків : НТУ "ХПІ", 2017. – № 31 (1253). – С. 12-18.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/33186
dc.language.isouk
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectдефектність ізоляціїuk
dc.subjectтехнологічний контрольuk
dc.subjectвипробування напругоюuk
dc.subjectпродукціяuk
dc.subjectdefects of isolationen
dc.subjecthigh voltageen
dc.titleТехнологічний контроль дефектів в емальпроводі з поліімідною ізоляцієюuk
dc.title.alternativeTechnological monitoring of defects in enameled wire with poliimid isolationen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_KhPI_2017_31_Holyk_Tekhnolohichnyi.pdf
Розмір:
358.9 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.21 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник № 31
Кафедра "Електроізоляційна та кабельна техніка"