Технологічний контроль дефектів в емальпроводі з поліімідною ізоляцією
dc.contributor.author | Голик, Оксана Вячеславівна | uk |
dc.contributor.author | Антонець, Станіслав Юрійович | uk |
dc.contributor.author | Щебенюк, Леся Артемівна | uk |
dc.contributor.author | Золотарьов, Володимир Володимирович | uk |
dc.date.accessioned | 2017-12-07T08:56:53Z | |
dc.date.available | 2017-12-07T08:56:53Z | |
dc.date.issued | 2017 | |
dc.description.abstract | Представлено результати неруйнівного технологічного контролю кількості дефектів в ізоляції емаль проводу на основі поліімідного полімеру. Розглянуто застосування статистичного методу аналізу результатів вимірювання показників цього контролю за допомогою математичної моделі тренду для використання результатів в активному технологічному контролі. Запропоновано рекомендації щодо практичного використання параметрів функції тренду в технологічному контролі. Параметром тренду є швидкість зменшення (чи збільшення) довжини проводу з заданою дефектністю впродовж технологічного циклу. Теоретично показана і вимірюваннями підтверджена можливість кількісної оцінки тенденції зміни впродовж технологічного циклу дефектності емаль ізоляції для проводу ПЭЭИ-ДХ2 – 200 з двохшаровою поліімідною ізоляцією номінальним діаметром 0,56 мм. Визначення кількісної оцінки тенденції зміни дефектності емаль ізоляції дозволяє виділити і кількісно оцінити випадкову похибку технологічного процесу – сумарну похибку результатів технологічного контролю, яка є кількісною характеристикою випадкової складової стабільності технологічного процесу і зумовлена багатьма чинниками, впливом кожного з яких можна знехтувати порівняно із сумою. | uk |
dc.description.abstract | In this paper can be used to not destroying technological monitoring of defects isolation enameled wire with poliimid polymer. The thesis is devoted to the statistical method for processing, comparison and analysis of outcomes of measurements of parameters isolation it enameled wire because of mathematical model of trend for application in active technological monitoring is developed; to development used of the recommendations for parameters of such monitoring. Is theoretically justified and the possibility of a diminution of dependence of an error from a velocity of movement of a wire for want of quantifying of defects enameled isolation not destroying tests by high voltage. | en |
dc.identifier.citation | Технологічний контроль дефектів в емальпроводі з поліімідною ізоляцією / О. В. Голик [та ін.] // Вісник Нац. техн. ун-ту «ХПІ» : зб. наук. пр. Сер. : Енергетика: надійність та енергоефективність. – Харків : НТУ "ХПІ", 2017. – № 31 (1253). – С. 12-18. | uk |
dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/33186 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | НТУ "ХПІ" | uk |
dc.subject | дефектність ізоляції | uk |
dc.subject | технологічний контроль | uk |
dc.subject | випробування напругою | uk |
dc.subject | продукція | uk |
dc.subject | defects of isolation | en |
dc.subject | high voltage | en |
dc.title | Технологічний контроль дефектів в емальпроводі з поліімідною ізоляцією | uk |
dc.title.alternative | Technological monitoring of defects in enameled wire with poliimid isolation | en |
dc.type | Article | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- vestnik_KhPI_2017_31_Holyk_Tekhnolohichnyi.pdf
- Розмір:
- 358.9 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.21 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: