Вычислительный метод идентификации поверхностных атомов для обработки данных молекулярной динамики

Abstract

Предлагается метод обработки данных, полученных в результате моделирования процессов формирования тонких пленок методом молекулярной динамики, для нахождения поверхностных атомов материла. Данный метод был протестирован для ряда типичных примеров и показал корректные результаты. Результаты работы предложенного метода могут быть использованы для нахождения плотности, шероховатости, микронапряжений и пр.

We propose a method of processing data obtained from the by molecular dynamics simulation of the formation of thin films for identification of the surface particles of material. The value of the electron density around each atom can be used as a criterion of atom affiliation to the surface of the material. As a result, the problem of finding the surface atoms is reduced to the processing of three-dimensional array. Value of each element is the electron density in the geometric point corresponding to the geometric center of the array element. This method has been tested for several typical examples and showed the correct results. The results of the proposed method can be used to find the density, roughness, microstrain, etc.