Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2010

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник

Члени комітету

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

В работе рассматривается применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточного напряжения в кристаллах, облученных ИК-лазером. Определены остаточные напряжения и ошибка в их значениях. Доказано, что в предположении двумерных напряжений величина ошибки допустима, а сам метод определения корректен.
Application of photoelasticity finite elements method is investigated for research of residual stresses in the crystals that radiation-exposed infra-red laser. Residual stresses and mistakes are obtained. In supposition of two-dimensional stresses, the error is small, and the method is correct.

Опис

Ключові слова

моделирование имитационное, метод конечных элементов, коэффициенты пьезооптические

Бібліографічний опис

Тесленко А. А. Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером / А. А. Тесленко // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Темат. вип. : Динаміка і міцність машин. – Харків : НТУ "ХПІ", 2010. – № 69. – С. 142-146.

Зібрання