Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером

Abstract

В работе рассматривается применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточного напряжения в кристаллах, облученных ИК-лазером. Определены остаточные напряжения и ошибка в их значениях. Доказано, что в предположении двумерных напряжений величина ошибки допустима, а сам метод определения корректен.

Application of photoelasticity finite elements method is investigated for research of residual stresses in the crystals that radiation-exposed infra-red laser. Residual stresses and mistakes are obtained. In supposition of two-dimensional stresses, the error is small, and the method is correct.