Методичні вказівки до лабораторних робіт з курсу "Моделювання на ЕОМ"

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorХарченко, Олександра Леонідівнаuk
dc.contributor.authorБалєв, Володимир Миколайовичuk
dc.date.accessioned2014-02-24T20:23:08Z
dc.date.available2014-02-24T20:23:08Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractВ лабораторних роботах реалізована нова технологія дослідження електронних схем, що базується на використанні програмної (комп’ютерної) моделі, забезпечує швидке і ґрунтовне засвоєння великих обсягів інформації при вивченні різних методів вимірювання, принципів перетворення вимірювальних сигналів, методів оцінки метрологічних показників приладівuk
dc.identifier.citationМетодичні вказівки до лабораторних робіт з курсу "Моделювання на ЕОМ" : для студ. спец. 6.051001–01 "Інформаційно–вимірювальні системи", 6.051001–02 "Метрологія та інформаційно–вимірювальні технології" напряму підготовки 6.051001 "Метрологія та інформаційно–вимірювальні технології" денного та заочного відділення / уклад. О. Л. Харченко, В. М. Балєв. – Харків : НТУ "ХПІ", 2010. – 68 с.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4405
dc.language.isouk
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectджерела сигналівuk
dc.subjectпасивні компонентиuk
dc.subjectдіодиuk
dc.subjectтранзисториuk
dc.subjectаналогові мікросхемиuk
dc.subjectмікросхеми змішаного типуuk
dc.subjectцифрові мікросхемиuk
dc.subjectлогічні цифрові мікросхемиuk
dc.subjectіндикаторні пристроїuk
dc.subjectмультиметрuk
dc.subjectосцилографuk
dc.subjectsourcesen
dc.subjectbasicen
dc.subjectdiodesen
dc.subjecttransistorsen
dc.subjectmultimetren
dc.subjectoscilloscopeen
dc.titleМетодичні вказівки до лабораторних робіт з курсу "Моделювання на ЕОМ"uk
dc.typeLearning Objecten

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
prohramy_2010_Modeliuvannia.pdf
Розмір:
1.37 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
6.73 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Інформаційно-вимірювальні технології і системи"