Дрейф во времени емкости и тангенса угла диэлектрических потерь неэкранированных и экранированных сетевых кабелей
Loading...
Date
Authors
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
НТУ "ХПИ"
Abstract
The time series of measured values of capacity and dielectric loss tangent of the 5-th category network cables were demonstrated. It was experimentally shown that the variation of dielectric loss
tangent values of shielded twisted pairs equals to more than two magnitude orders. The reasons of variation of dielectric parameters were analyzed and there were given recommendations related to time intervals of measuring dielectric parameters.
Представлены временные ряды измеренных значений емкости и тангенса угла диэлектрических потерь образцов сетевых кабелей категории 5е. Экспериментально установлено, что разброс значений тангенса угла диэлектрических потерь витой пары экранированного кабеля составляет более двух порядков. Проанализированы причины разброса диэлектрических параметров и даны рекомендации относительно временних интервалов при измерении диэлектрических параметров.
Представлены временные ряды измеренных значений емкости и тангенса угла диэлектрических потерь образцов сетевых кабелей категории 5е. Экспериментально установлено, что разброс значений тангенса угла диэлектрических потерь витой пары экранированного кабеля составляет более двух порядков. Проанализированы причины разброса диэлектрических параметров и даны рекомендации относительно временних интервалов при измерении диэлектрических параметров.
Description
Citation
Бойко А. Н. Дрейф во времени емкости и тангенса угла диэлектрических потерь неэкранированных и экранированных сетевых кабелей / А. Н. Бойко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Энергетика: надёжность и энергоэффективность. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2013. – № 59 (1032). – С. 20-29.
