Методика оценки влияния структурных неоднородностей электромагнитного экрана на его защитные свойства
Дата
2010
Автори
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
Разработана методика аналитического расчета электромагнитного поля, проникающего внутрь корпуса-экрана через его структурные неоднородности. Методика учитывает произвольную форму структурной неоднородности и толщину стенки экрана. Разработана компьютерная программа, реализующая методику для произвольного числа структурных неоднородностей типов "отверстие" и "щель".
The methods of analytical calculation of the electromagnetic field, penetrating into a corps-screen through his structural to heterogeneity are worked out. Methods take into account the arbitrary form of structural heterogeneity and thickness of wall of screen. The computer program is worked out, realizing methods for the arbitrary number of structural неоднородностей types "opening" and "crack".
The methods of analytical calculation of the electromagnetic field, penetrating into a corps-screen through his structural to heterogeneity are worked out. Methods take into account the arbitrary form of structural heterogeneity and thickness of wall of screen. The computer program is worked out, realizing methods for the arbitrary number of structural неоднородностей types "opening" and "crack".
Опис
Ключові слова
электромагнитный экран, защитные свойства экрана, электромагнитное экранирование, шасси узлов ТКС, программа Screening Orifices Analytics, экранирование, electromagnetic field, structural heterogeneity, corps-screen through his structural
Бібліографічний опис
Скобликов А. Ю. Методика оценки влияния структурных неоднородностей электромагнитного экрана на его защитные свойства / А. Ю. Скобликов // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2010. – № 4. – С. 44-48.