Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4703

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/fmp

Від 2002 року кафедра має назву "Фізика металів і напівпровідників", попередня назва – кафедра металофізики.

Кафедра металофізики організована в 1930 році у складі фізико-механічного факультету ХММІ. Деканом факультету був у ті роки видатний вчений-фізик, академік Іван Васильович Обреїмов.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут". За час існування кафедрою підготовлено близько 3000 інженерів, у тому числі і для зарубіжних країн.

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 3 доктора та 2 кандидата фізико-математичних наук; 3 співробітника мають звання професора.

Переглянути

Фільтри

2011 - 20122

Налаштування

Автор: search.filters.author.Зубарев, Евгений НиколаевичКлючові слова: search.filters.subject.вольфрам

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    Особенности формирования короткопериодных многослойных композиций W/B4C
    (Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН, 2012) Копылец, Игорь Анатольевич; Кондратенко, Валерий Владимирович; Зубарев, Евгений Николаевич; Рощупкин, Д. В.
    Методами малоугловой рентгеновской дифрактометрии в Cu-Kα-излучении и электронной микроскопии поперечных срезов изучались количественные характеристики межслоевого взаимодействия в многослойных периодических композициях W/B4C, изготовленных магнетронным напылением. Установлено, что на образование перемешанных зон на границах слоев расходуется приблизительно 0.85 nm толщины слоя вольфрама. Перемешанные слои имеют плотность 13.4 ± 0.7 g/cm3 и содержат вольфрам в связанном химически состоянии. Оценено влияние таких перемешанных зон на рентгеновскую отражательную способность многослойных композиций W/B4C. Предложен способ оценки толщины слоев при малом количестве пиков на дифрактограмме
  • Ескіз
    Документ
    Структурно-фазовые превращения в многослойных периодических композициях W-B4C с периодом 2,5 НМ при нагреве
    (Харьковский национальный университет им. В. Н. Каразина; Научный физико-технологический центр МОН и НАН Украины, 2011) Копылец, Игорь Анатольевич; Зубарев, Евгений Николаевич; Кондратенко, Валерий Владимирович; Ананьев, К. А.
    В работе рентгеноструктурными и электронномикроскопическими методами изучались изменения в структуре и фазовом составе многослойной пленочной композиции, состоящей из чередующихся слоев W и B4C с толщиной бислоя 2,5 нм, при нагреве в вакууме в диапазоне температур 100 – 1000°С. Обнаружено, что в многослойном покрытии W-B4C при отжиге происходят следующие фазовые превращения: до 600°С образуются карбиды вольфрама (прежде всего W3C), свыше 600°С карбиды замещаются боридами W2B и WB, а при температуре выше 950°С образуются WB4 и W2B5. Эти превращения сопровождаются объемными изменениями: толщина слоев B4C уменьшается, а толщина W-содержащих слоев возрастает так, что при отжиге до 1000°С доля W-содержащего слоя в периоде увеличивается от 0,38 до 0,51. При этом величина периода до 600°С увеличивается на 1%, а при дальнейшем нагреве возвращается к приблизительно прежней величине. При 950 – 1000°С происходит разрушение многослойной структуры