Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4703

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/fmp

Від 2002 року кафедра має назву "Фізика металів і напівпровідників", попередня назва – кафедра металофізики.

Кафедра металофізики організована в 1930 році у складі фізико-механічного факультету ХММІ. Деканом факультету був у ті роки видатний вчений-фізик, академік Іван Васильович Обреїмов.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут". За час існування кафедрою підготовлено близько 3000 інженерів, у тому числі і для зарубіжних країн.

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 3 доктора та 2 кандидата фізико-математичних наук; 3 співробітника мають звання професора.

Переглянути

Фільтри

2016 - 20172

Налаштування

Ключові слова: search.filters.subject.micro-strain

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    On application of X-ray approximation method for studying the substructure of sufficiently perfect samples
    (Institute for Single Crystals, 2017) Malykhin, S. V.; Garkusha, I. E.; Makhlay, V. A.; Surovitsky, S. V.; Reshetnyak, M. V.; Borisova, S. S.
    The technique of X-ray diffraction investigation of coherence length and micro-strain level using approximation of diffraction line profiles by Gaussian and Cauchy functions as well as by harmonic analysis has been worked out for tungsten samples with quite perfect structure. The importance of right choice of a standard for obtaining the reasonable measurement results has been demonstrated. For the first approximation the possibility to use the spectral line width for calculation of the reflection true (physical) broadening has been shown. The contributions of basic instrumental factors into the reflection geometric broadening were estimated.
  • Ескіз
    Документ
    Structure of magnetron hydroxyapatite films with small stoichiometry deviation
    (STC "Institute for Single Crystals", 2016) Mikhailov, I. F.; Starikov, V. V.; Baturin, A. A.
    Phase composition, coherence lengths and micro-strain level in hydroxyapatite films with controlled deviation from stoichiometry (Ca/P = 1.67) were measured by methods of X-ray diffraction and X-ray fluorescent analysis. It was established that at Ca/P = 1.6±0.03, hydroxyapatite layers with thickness 2m on the niobium substrates were practically single-phase but differed by the coherence lengths and micro-strain levels for different crystallographic directions: the coherence length along was commensurable with the film thickness and much exceeded the values for and directions. The micro-strain level ε for direction reached (1.3÷1.7)·10-3 being by an order higher than for and directions. That testifies constrained growth conditions along with the high homogeneity of the lattice period of the hydroxyapatite film.