Кафедра "Комп'ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/3964

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/pmnk

Сучасна назва – кафедра "Комп’ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики", первісна назва – кафедра "Прилади і методи неруйнівного контролю".

Кафедру "Прилади і методи неруйнівного контролю" було створено 08 лютого 1995 року виключно з числа викладачів кафедри "Інформаційно-вимірювально техніка" та її випускників на базі факультету "Автоматика та приладобудування". Першим завідувачем кафедри став доктор технічних наук, професор Себко Вадим Пантелійович.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут". На кафедрі діє наукова школа за темою "Створення теорії і розробка електромагнітних методів та реалізуючих їх засобів для неруйнівного контролю фізичних параметрів матеріалів і виробів в магнітних полях різної орієнтації і структури".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора технічних наук, 8 кандидатів технічних наук; 1 співробітник має звання професора, 6 – доцента.

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Силовая электроника в устройствах неразрашающего контроля. Генераторы радиоимпульсов большой пиковой мощности
    (НТУ "ХПИ", 2013) Сучков, Григорий Михайлович; Глоба, Светлана Николаевна; Десятниченко, Алексей Владимирович; Хомяк, Юрий Валентинович; Хащина, Сергей Владимирович; Познякова, Маргарита Евгеньевна; Ноздрачова, Екатерина Леонидовна; Петрищев, О. Н.
    В статье приведены результаты разработки генераторов пакетных радиоимпульсов большой мощности для питания электромагнитно – акустический преобразователей бесконтактных ультразвуковых дефектоскопов. Показано, что за счет увеличения мощности генераторов повышается чувствительность обнаружения внутренних дефектов в металлоизделиях до уровня традиционных контактных дефектоскопов и толщиномеров.