Кафедра "Комп'ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/3964

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/pmnk

Сучасна назва – кафедра "Комп’ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики", первісна назва – кафедра "Прилади і методи неруйнівного контролю".

Кафедру "Прилади і методи неруйнівного контролю" було створено 08 лютого 1995 року виключно з числа викладачів кафедри "Інформаційно-вимірювально техніка" та її випускників на базі факультету "Автоматика та приладобудування". Першим завідувачем кафедри став доктор технічних наук, професор Себко Вадим Пантелійович.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут". На кафедрі діє наукова школа за темою "Створення теорії і розробка електромагнітних методів та реалізуючих їх засобів для неруйнівного контролю фізичних параметрів матеріалів і виробів в магнітних полях різної орієнтації і структури".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора технічних наук, 8 кандидатів технічних наук; 1 співробітник має звання професора, 6 – доцента.

Переглянути

Фільтри

20151

Налаштування

Автор: search.filters.author.Познякова, Маргарита ЕвгеньевнаКлючові слова: search.filters.subject.curvature of the surface

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Ультразвуковой контроль качества изделий с не плоской поверхностью волнами релея
    (НТУ "ХПІ", 2015) Познякова, Маргарита Евгеньевна; Сучков, Григорий Михайлович; Петрищев, Олег Николаевич
    Приведены результаты экспериментальных исследований и разработок, направленных на повышение выявляемости поверхностных дефектов и производительности контроля с использованием ЭМА способа возбуждения и приема импульсов поверхностных волн. Показано, что использование ЭМА преобразователей позволяет обеспечить высокопроизводительную дефектоскопию изделий со значительной площадью поверхности и, в сравнении с контактными способами ультразвукового контроля, существенно уменьшить текущие расходы на проведение УЗК.