Кафедра "Комп'ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/3964

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/pmnk

Сучасна назва – кафедра "Комп’ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики", первісна назва – кафедра "Прилади і методи неруйнівного контролю".

Кафедру "Прилади і методи неруйнівного контролю" було створено 08 лютого 1995 року виключно з числа викладачів кафедри "Інформаційно-вимірювально техніка" та її випускників на базі факультету "Автоматика та приладобудування". Першим завідувачем кафедри став доктор технічних наук, професор Себко Вадим Пантелійович.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут". На кафедрі діє наукова школа за темою "Створення теорії і розробка електромагнітних методів та реалізуючих їх засобів для неруйнівного контролю фізичних параметрів матеріалів і виробів в магнітних полях різної орієнтації і структури".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора технічних наук, 8 кандидатів технічних наук; 1 співробітник має звання професора, 6 – доцента.

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Безконтактне розбракування матеріалу металевих пластин однієї марки сталі за їх електромагнітними параметрами
    (ВКФ "Фавор ЛТД", 2020) Горкунов, Борис Митрофанович; Львов, Сергій Геннадійович; Борисенко, Євген Анатолійович; Жаббар, Аббасі
    Розроблено метод і пристрій на основі диференціального трансформаторного електромагнітного перетворювача для розбраковування матеріалу плоских мет алевих виробів. Показано, що використання диференціального методу для визначення магнітної проникності і електропровідності плоских металевих виробів дозволяє, разом з підвищенням роздільної здатності істотно спростити процедури проведення як вимірювальних, так і розрахункових операцій. Показано, що зі зростанням числових значень електромагнітних параметрів виробу чисельні значення похибок їх визначення збільшуються.