Кафедри
Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393
Переглянути
15 результатів
Результати пошуку
Документ Автоматизированный измерительный комплекс вольт-амперных характеристик фотоэлектрических преобразователей(Кременчуцький національний університет ім. Михайла Остроградського, 2014) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил Валерьевич; Харченко, Н. М.; Лукьянов, Евгений АлександровичДокумент Компьютеризированный измерительный комплекс вольт-амперных характеристик(Національний університет кораблебудування ім. адмірала Макарова, 2015) Прокопенко, Дмитрий Сергеевич; Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Применение импульсного осветителя для контроля пространственного распределения времени жизни неосновных носителей заряда в кремниевых фотоэлектрических преобразователях(Національний університет кораблебудування ім. адмірала Макарова, 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил Валерьевич; Иванов, А. Л.; Хрипунов, Геннадий СеменовичДокумент Автоматизированный измерительный комплекс вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов(Пермский национальный исследовательский политехнический университет, 2015) Прокопенко, Дмитрий Сергеевич; Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Создание и апробация автоматизированного комплекса для измерения вольт-амперных характеристик(Вінницький національний технічний університет, 2014) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Разработка системы автоматизации измерений параметров полупроводниковых приборов(Чернігівський національний технологічний університет, 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичОсновным методом определения параметров полупроводниковых приборов является метод измерения и аналитической обработки их вольтамперных характеристик (ВАХ). Существующие на сегодняшний день измерительные комплексы для реализации этого метода представляют собой дорогие и сложные системы, которые экономически не выгодно использовать в условиях отечественного производства. В работе разработан экономичный автоматизированный измерительный комплекс ВАХ на основе микроконтроллерной системы управления с соответствующим программным обеспечением, позволяющий в связке с компьютером проводить экспрессную аттестацию фотоэлектрических преобразователей и полупроводниковых приборов по их вольтамперным характеристикам. Апробация комплекса показала его способность проводить измерения ВАХ с достаточно высокой точностью при средней погрешности измерения не больше 1 %.Документ Влияние геометрических параметров и типа проводимости базовых кремниевых кристаллов на эффективность работы фотопреобразователей(Астропринт, 2007) Кириченко, Михаил Валерьевич; Зайцев, Роман Валентинович; Копач, Владимир Романович; Антонова, В. А.; Листратенко, А. М.Представлены результаты исследований исходных и диодных параметров фотоэлектрических преобразователей (ФЭП), изготовленных на основе базовых кристаллов кремния р- и n-типа проводимости толщиной от 190 до 375 мкм. Путем сопоставления исходных и диодных параметров ФЭП с базовыми кристаллами разной толщины и типа проводимости обоснована целесообразность создания высокоэффективных отечественных ФЭП наземного назначения на основе кристаллов кремния n типа проводимости с толщиной не более 200 мкм.Документ Импульсный светодиодный осветитель для исследования времени жизни носителей заряда(Національний університет цивільного захисту України, 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил ВалерьевичДокумент Измерительный комплекс для контроля параметров фотоэлектрических модулей промышленного производства(Сумський державний університет, 2016) Кириченко, Михаил Валерьевич; Зайцев, Роман Валентинович; Прокопенко, Дмитрий СергеевичДокумент Импульсный светодиодный осветитель для исследования времени жизни носителей заряда(Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2015) Зайцев, Роман Валентинович; Кириченко, Михаил Валерьевич; Иванов, А.; Лоботенко, Д. С.