Кафедри

Постійне посилання на розділhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/35393

Переглянути

Фільтри

20152

Налаштування

Автор: search.filters.author.Михайлов, Антон ИгоревичКлючові слова: search.filters.subject.X-ray fluorescent analysis

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    Рентгенофлуоресцентный анализ следов йода в моче
    (Інститут медичної радіології ім. С. П. Григор'єва НАМН України, 2015) Михайлов, Игорь Федорович; Будрейко, Елена Анатольевна; Батурин, Алексей Анатольевич; Шляхова, Наталия Васильевна; Михайлов, Антон Игоревич; Борисова, Светлана Серафимовна; Решетняк, Максим Вячеславович; Галата, Дарья Игоревна
    Разработка нового метода рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) для определения содержания следов йода в моче в диапазоне концентраций 50–200 мкг/дм³ (0,05 ÷ 0,2 ppm). Методом РФА проведено определение концентрации йода в моче у 35 детей 10–15 лет с эндокринной патологией (задержка полового развития, диффузный зоб, ожирение) и 10 практически здоровых, находившихся под наблюдением в условиях консультативной поликлиники и отделения эндокринологии ГУ "ИОЗДП НАМН Украины". Предложенный оптимизированный метод РФА позволяет на 1–2 порядка повысить чувствительность определения микроэлементов в биологических объектах и добиться определения содержания следов йода в моче в диапазоне концентраций 50–200 мкг/дм³.
  • Ескіз
    Документ
    Рентгеновские методы анализа состава материалов
    (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2015) Михайлов, Игорь Федорович; Батурин, Алексей Анатольевич; Михайлов, Антон Игоревич
    В монографии представлены комплексные методы рентгеновского анализа состава материалов, основанные на измерении интенсивности флуоресценции, рассеяния и дифракционных отражений. Предложен общий подход к оптимизации рентгеновских спектров по критерию предела обнаружения, который положен в основу разработки рентгенооптических схем. Представлены результаты исследований структуры и рентгенооптических характеристик новых кристаллов-анализаторов из фуллерита и многослойных рентгеновских зеркал. Книга может быть полезна для специалистов по рентгеновским исследованиям материалов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.