Рентгеновские методы анализа состава материалов

Abstract

В монографии представлены комплексные методы рентгеновского анализа состава материалов, основанные на измерении интенсивности флуоресценции, рассеяния и дифракционных отражений. Предложен общий подход к оптимизации рентгеновских спектров по критерию предела обнаружения, который положен в основу разработки рентгенооптических схем. Представлены результаты исследований структуры и рентгенооптических характеристик новых кристаллов-анализаторов из фуллерита и многослойных рентгеновских зеркал. Книга может быть полезна для специалистов по рентгеновским исследованиям материалов, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.The monograph is devoted to complex X-ray methods for analysis of material composition based on measuring intensity of fluorescence, scattering and diffraction. A general approach is proposed to optimization of X-ray spectra by the criterion of detection limit which became a basis for development of X-ray optical schemes. The results of investigations for structure and X-ray optical characteristics of new crystal-analyzers made from fullerite and multi-layer X-ray mirrors are presented. The book may be useful for specialists on X-ray investigations of materials, as well as for students and post-graduate students of materials physics specialities.