Публікація:
Методи дослідження структури тонких плівок

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЗайцев, Роман Валентиновичuk
dc.contributor.authorКіріченко, Михайло Валерійовичuk
dc.contributor.authorЗайцева, Лілія Василівнаuk
dc.contributor.authorХрипунов, Геннадій Семеновичuk
dc.contributor.authorДроздов, Антон Миколайовичuk
dc.contributor.authorДроздова, Ганна Анатоліївнаuk
dc.date.accessioned2021-08-03T13:32:33Z
dc.date.available2021-08-03T13:32:33Z
dc.date.issued2021
dc.description.abstractКнига являє собою підручник для студентів старших курсів вищих навчальних закладів, присвячений найсучаснішим методам дослідження поверхні твердого тіла - скануючій електронній та зондовій мікроскопії. У підручнику представлена сучасна наукова інформація про можливості атомно-силової та електронної скануючої мікроскопії. Наведено характерні особливості методик атомно-силової мікроскопії, які дозволяють отримувати додаткову інформацію про властивості досліджуваних об'єктів. Розглянуто принцип роботи електронного скануючого мікроскопа і приклади реалізації різних методик для дослідження мікроскопічних об'єктів. Продемонстровані методичні прийоми усунення спотворень одержуваних зображень.uk
dc.identifier.citationМетоди дослідження структури тонких плівок : підручник / Р. В. Зайцев [та ін.] ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т". – Харків : Бровін О. В., 2021. – 320 с.uk
dc.identifier.isbn978-617-8009-16-8
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/53807
dc.language.isouk
dc.publisherФОП Бровін О. В.uk
dc.subjectпідручникuk
dc.subjectелектронографічні методиuk
dc.subjectелектронограмиuk
dc.subjectмонокристалиuk
dc.subjectподвійна дифракціяuk
dc.subjectінтенсивність розсіюванняuk
dc.subjectкрокові електродвигуниuk
dc.subjectмедіанна фільтраціяuk
dc.subjectелектросилова мікроскопіяuk
dc.titleМетоди дослідження структури тонких плівокuk
dc.typeLearning Objecten
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublication2a87e119-6879-4f11-b474-50ddd1055170
relation.isAuthorOfPublication4b76b77b-7f90-434f-bf3a-8585bed5b1d0
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery2a87e119-6879-4f11-b474-50ddd1055170

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Book_2021_Zaitsev_Metody_doslidzhennia.pdf
Розмір:
6.41 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Мікро- та наноелектроніка"