Influence of electromagnetic radiation on the performance of semiconductor devices

Abstract

The growing level of electromagnetic threats necessitates investigating the failure mechanisms of semiconductor devices used in electronic equipment, particularly under pulsed electromagnetic radiation that can cause both temporary and critical damage to components.Зростаючий рівень електромагнітних загроз вимагає дослідження механізмів відмов напівпровідникових приладів, що використовуються в електронній апаратурі, зокрема, під впливом імпульсного електромагнітного випромінювання, яке може спричинити як тимчасове, так і критичне пошкодження компонентів.