О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции

Ескіз

Дата

2006

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов.
The paper considers activated state of a statistic thermodynamic system in configuration phase space. Analysis of the given research results allows developing a calculation technique to explain causes of possible motion of arc reference points on the contact face.

Опис

Ключові слова

миграция атомов, перемещение заряженных частиц, квантовая механика, system activated state, particle migration, configuration phase space, arc reference point motion

Бібліографічний опис

Павленко Т. П. О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т. П. Павленко // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 6. – С. 22-24.

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в