Розрахунок кількості розірваних міжатомних зв'язків при перетині гексагональної щільноупакованої ґратки січною площиною
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
"Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
поверхня кристала, формування поверхні, енергія, кристалографія, матеріалознавство, властивості металів, дослідження
Бібліографічний опис
Бойко А. А. Розрахунок кількості розірваних міжатомних зв'язків при перетині гексагональної щільноупакованої ґратки січною площиною / А. А. Бойко // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : наук. вид. : тези доп. 28-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD–2020, [28-30 жовтня 2020 р.] : у 5 ч. Ч. 4 / ред. Є. І. Сокол. – Харків : Планета-Прінт, 2020. – С. 326