Механизмы отказов полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий при воздействии внешнего электромагнитного излучения

dc.contributor.authorКравченко, Владимир Ивановичru
dc.contributor.authorЯковенко, Игорь Владимировичru
dc.date.accessioned2014-10-03T07:07:11Z
dc.date.available2014-10-03T07:07:11Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractПоказано, что влияние импульсного электромагнитного излучения сопровождается возникновением токов в проводящих элементах изделий и возникновением их внутренних полей. Определены механизмы генерации колебаний полупроводниковых структур, обусловленных их взаимодействием с потоками заряженных частиц в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения.ru
dc.description.abstractThe influence of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus is often accompanied by currents arcsing on inner current – conducting elements as well as by the distortion of their internal fields. The power losses of the flow of charged particles caused by such an interaction due to excitation of surface polaritons in the semiconductor superstructure have been determined.en
dc.identifier.citationКравченко В. И. Механизмы отказов полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий при воздействии внешнего электромагнитного излучения / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Техника и электрофизика высоких напряжений. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2014. – № 21 (1064). – С. 84-87.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/9162
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectизлучение импульсноеru
dc.subjectэлементы проводящиеru
dc.subjectтокru
dc.subjectколебанияru
dc.subjectчастицы заряженныеru
dc.subjectпотокru
dc.subjectelectromagnetic radiationen
dc.subjectsemiconductor superstructureen
dc.titleМеханизмы отказов полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий при воздействии внешнего электромагнитного излученияru
dc.title.alternativeFailure mechanism of semiconductor components under the influence of external electrical radio electromagnetic radiationen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2014_21_Kravchenko_Mekhanizmy.pdf
Розмір:
338.41 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: