Вплив патентного аналізу на оптимізацію процесу кування ручки з використанням САПР QForm
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
процес кування ручки, програмний комплекс QForm, патентні аналізи, оптимізація параметрів кування, комп'ютерне моделювання, патентні права
Бібліографічний опис
Шабля Є. В. Вплив патентного аналізу на оптимізацію процесу кування ручки з використанням САПР QForm [Електронний ресурс] / Є. В. Шабля // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 33-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2025, 14-17 травня 2025 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Електрон. текст. дані. – Харків : НТУ "ХПІ", 2025. – С. 419.