Вплив патентного аналізу на оптимізацію процесу кування ручки з використанням САПР QForm

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorШабля, Є. В.
dc.date.accessioned2025-10-08T11:30:32Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationШабля Є. В. Вплив патентного аналізу на оптимізацію процесу кування ручки з використанням САПР QForm [Електронний ресурс] / Є. В. Шабля // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 33-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2025, 14-17 травня 2025 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Електрон. текст. дані. – Харків : НТУ "ХПІ", 2025. – С. 419.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/93812
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectпроцес кування ручки
dc.subjectпрограмний комплекс QForm
dc.subjectпатентні аналізи
dc.subjectоптимізація параметрів кування
dc.subjectкомп'ютерне моделювання
dc.subjectпатентні права
dc.titleВплив патентного аналізу на оптимізацію процесу кування ручки з використанням САПР QForm
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2025_Shablia_Vplyv_patentnoho.pdf
Розмір:
532.05 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2.95 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я. 2025