Nanostructure of amorphous films
Дата
2017
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників ім. В. Лашкарьова НАН України
Анотація
У роботі представлені результати експериментальних і теоретичних досліджень тонких халькогенідних плівок на рівні наноструктури. Просвітна електронна мікроскопія продемонструвала аморфну кластерну структуру. Отримано та проаналізовано рівняння для параметрів порядку в межах кластера.
The paper presents results of experimental and theoretical investigations of thin chalcogenide films at nanostructure level. Transmission electron microscopy demonstrated amorphous cluster structure. The equations for order parameters in cluster boundaries have been obtained and analyzed.
The paper presents results of experimental and theoretical investigations of thin chalcogenide films at nanostructure level. Transmission electron microscopy demonstrated amorphous cluster structure. The equations for order parameters in cluster boundaries have been obtained and analyzed.
Опис
Ключові слова
халькогенідна тонка плівка, нанокластер, кластерний зв`язок, параметри порядку, потенційний рельєф, chalcogenide thin film, nanocluster, cluster bond, order parameters, potential relief
Бібліографічний опис
Nanostructure of amorphous films / N. L. Dyakonenko [at al.] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics (SPQEO) = Фізика напівпровідників, квантова електроніка та оптоелектроніка (SPQEO). – 2017. – V. 20, N 2. – P. 199-203.