Электронно-микроскопическое исследование тонкопленочных кристаллов Cr₂O₃ с использованием дифракционного метода изгибных контуров
Дата
2004
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Наука
Анотація
Исследована структура, ориентировка и особенности роста кристаллов, растущих в аморфных конденсатах стехиометрического состава Cr₂O₃ в процессе отжига. Основная часть исследований проведена методами просвечивающей электронной микроскопии, в частности - дифракционным методом изгибных экстинкционных контуров. Определена ориентация зародышей кристаллитов. Обнаружен двухосевой изгиб кристаллической решетки, зависящий от ориентировки зародыша кристалла. Выявлено влияние ориентировки кристалла на анизотропию скорости кристаллизации и морфологию кристаллитов.
Structure, lattice orientation and peculiarities of crystal growth in amorphous Cr₂O₃ deposits of stoichiometric composition were investigated. The main part of research work was performed by transmission electron microscopy, in particular – using diffraction method: bend contour technique. The orientations of crystal nuclei were determined. Two-dimensional bending of crystals lattice planes, depending on crystal nuclei orientation was observed. The influence of crystal orientation on anisotropy of crystallization rate and morphology of the crystals was revealed.
Structure, lattice orientation and peculiarities of crystal growth in amorphous Cr₂O₃ deposits of stoichiometric composition were investigated. The main part of research work was performed by transmission electron microscopy, in particular – using diffraction method: bend contour technique. The orientations of crystal nuclei were determined. Two-dimensional bending of crystals lattice planes, depending on crystal nuclei orientation was observed. The influence of crystal orientation on anisotropy of crystallization rate and morphology of the crystals was revealed.
Опис
Ключові слова
контур экстинкционный, решетка кристаллическая, картина зонно-осевая, кристаллы серповидные
Бібліографічний опис
Электронно-микроскопическое исследование тонкопленочных кристаллов Cr₂O₃ с использованием дифракционного метода изгибных контуров / В. Ю. Колосов [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2004. – № 10. – С. 100-104.