Testing system for film electronic protective elements
Loading...
Date
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Abstract
Description
Keywords
testing system, electronic protective elements, film electronic, physical processes, technological modes, electromagnetic radiation, experimental studies, electromagnetic pulses, kinetic switching processes, semiconductor film systems, technological regimes, conductivity, cadmium telluride films, crystals, electrical breakdown
Citation
Testing system for film electronic protective elements / M. S. Khrypunov, R. V. Zaitsev, A. M. Drozdov, M. V. Kirichenko, K. O. Minakova // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 32-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD–2024, [22-25 травня 2024 р.] / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2024. – С. 490.