Математические основы технической диагностики объектов электрических сетей. Часть 2
Loading...
Date
item.page.orcid
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт"
Abstract
Во второй части учебного пособия рассмотрены основные методы диагностики состояния объектов электрических сетей, основанные на использовании алгебры логики, теории графов, нечеткой логики и нейронных сетей. Приведены практические примеры диагностики состояния высоковольтного оборудования на основе изложенных методов. Предназначено как для студентов и магистров специальности № 141 "Электроэнергетика, электротехника и электромеханика" по специализации "Техника высоких напряжений и диагностика объектов электрических сетей", так и для соискателей, аспирантов и исследователей, работающих в области диагностики состояния высоковольтного электроэнергетического оборудования.
Description
Keywords
электроэнергетика, электротехника, алгебра логики, булевы функции, логические методы распознавания, метод сокращенного базиса, булевые матрицы, теория графов, опорно-стержневые изоляторы, техническое состояние объектов, электроэнергетическое оборудование, теория нечетких множеств, нечеткие множества, биологический нейрон, нейронные сети, искусственный нейрон, персептроны, многослойный персептрон, сети ассоциативной памяти, нечеткие нейронные сети
Citation
Бондаренко В. Е. Математические основы технической диагностики объектов электрических сетей : учеб. пособие : [в 2 ч.]. Ч. 2 : Диагностика состояния оборудования электрических сетей на основе логических методов распознавания, теории графов, нечеткой логики и нейронных сетей / В. Е. Бондаренко, О. В. Шутенко, Д. Н. Баклай ; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". – Харьков : НТУ "ХПИ", 2018. – 260 с.
