Моделювання впливу точкових дефектів на ефективний час життя неосновних носіїв заряду в базових кристалах кремнієвих фотоелектричних перетворювачів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorДорошенко, Ганна Миколаївнаuk
dc.contributor.authorКопач, Володимир Романовичuk
dc.contributor.authorКіріченко, Михайло Валерійовичuk
dc.contributor.authorЗайцев, Роман Валентиновичuk
dc.date.accessioned2022-09-28T14:54:15Z
dc.date.available2022-09-28T14:54:15Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationМоделювання впливу точкових дефектів на ефективний час життя неосновних носіїв заряду в базових кристалах кремнієвих фотоелектричних перетворювачів / Г. М. Дорошенко [та ін.] // IV Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 2010 р. / Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Харків : НТУ "ХПІ", 2010. – С. 100-101.uk
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-4847-506X
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-2286-8452
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58243
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"uk
dc.subjectнапівпровідникові приладиuk
dc.subjectелектрична енергіяuk
dc.subjectметод Чохральськогоuk
dc.subjectфізичні реакціїuk
dc.subjectхімічні реакціїuk
dc.titleМоделювання впливу точкових дефектів на ефективний час життя неосновних носіїв заряду в базових кристалах кремнієвих фотоелектричних перетворювачівuk
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Doroshenko_Modeliuvannia_2010.pdf
Розмір:
1.37 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Мікро- та наноелектроніка"