Machine learning-driven power integrity characterization for printed circuit boards

Loading...
Thumbnail Image

Date

DOI

item.page.thesis.degree.name

item.page.thesis.degree.level

item.page.thesis.degree.discipline

item.page.thesis.degree.department

item.page.thesis.degree.grantor

item.page.thesis.degree.advisor

item.page.thesis.degree.committeeMember

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"

Abstract

Description

Citation

Chao Li Machine learning-driven power integrity characterization for printed circuit boards [Electronic resours] / Chao Li, Panchenko V. I. // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 33-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2025, 14-17 травня 2025 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Електрон. текст. дані. – Харків : НТУ "ХПІ", 2025. – P. 1641.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By